Цитата Сообщение от Владимир Посмотреть сообщение
Насколько мне известно, при использовании этой методики невозможно получить реальных параметров сопротивления заземляющего устройства, а только приблизительные.
согласен, когда били штыри глубинного заземления замеры делали на каждом штыре через каждые 1,5м,с помощью MIE-500,очень хорошо виден прогресс изменения сопротивления.